IPRI - www.ipri.kiev.ua -  IPRI - www.ipri.kiev.ua -
Раздел [RUS]
Регистрация, хранение и обраб. данных. — 2013. — Т. 15, № 3.
[UKR]
Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2013. — Т. 15, № 3.
[ENG]
Data Rec., Storage & Processing. — 2013. — Vol. 15, N 3.
Страницы 3–19
PDF, full text
Заглавие [RUS]
Анализ ближнеполевого метода оптической записи информации микрополосковым зондом в осветительном режиме
[UKR]
Аналіз ближньопольового методу оптичного запису інформації мікросмужковим зондом в освітлювальному режимі
[ENG]
Analysis of Nearfield Method for Optical Data Storage Using Microstrip Probe Under Illumi-nating Mode
Авторы [RUS]
Лапчук А.С., Морозов Е.М.
[UKR]
Лапчук А. С., Морозов Є. М.
[ENG]
Lapchuk A.S., Morozov E.M.
Аннотация [RUS]
Проанализирован процесс оптического считывания информации ближнеполевым зондом на основе оптической плазмонной микрополосковой линии с оптического диска формата ROM. Рассчитаны параметры ближнеполевого оптического считывания информации в зависимости от размеров микрополоскового зонда. Установлено, что характер распределения потока мощности электромагнитного поля вблизи вершины зонда зависит от длины зонда и толщины металлического покрытия. Показано, что интерференционные эффекты на вершине зонда существенно влияют на параметры сканирующего ближнеполевого оптического микроскопа. Табл.: 2. Ил.: 13. Библиогр.: 20 наим.
[UKR]
Проаналізовано процес оптичного зчитування інформації ближньопо льовим зондом на основі оптичної плазмонної мікросмужкової лінії з оптичних дисків формату ЯОМ. Розраховано параметри ближньопольового оптичного зчитування інформації залежно від розмірів мікро- смужкового зонду. Встановлено, що характер розподілу потоку потужності електромагнітного поля біля вершини зонду залежить від довжини зонду і товщини металевого покриття. Показано, що інтерференційні ефекти на вершині зонду суттєво впливають на параметри сканувального ближньопольового оптичного мікроскопа.
[ENG]
Process of optical information reading by near-field probe based on optical plasmon microstrip line from ROM-format optical disk is analyzed. Parameters of optical near-field optical reading depending on size of microstrip probe are calculated. Found that a pattern of flow of electromagnetic fields at top of probe depends on length of probe and thickness of metal coating. It is shown that interference effects at top of probe significantly affect the parameters of scanning near-field optical microscope. Tabl.: 2. Fig.: 13. Refs: 20 titles.
Ключевые слова [RUS]
микрополосковый зонд, сканирующий ближнеполевой оптический микроскоп, считывание информации, интерференционные эффекты.
[UKR]
мікрополосковий зонд, сканувальний ближньопольовой оптичний мікроскоп, зчитування інформації, інтерференційні ефекти.
[ENG]
microstrip probe, scanning near-field optical microscope, information reading, interfe-rence effects.
Ссылки
Файлы 2013-3-1.pdf