IPRI - www.ipri.kiev.ua -  IPRI - www.ipri.kiev.ua -
Title (journal) Data Rec., Storage & Processing. — 2010. — Vol. 12, N 2.
Pages 3-11
PDF, full text
Title (article) Study of Polarimetric Characteristics of Optical Disk Media Substrates
Authors Petrov V.V., Kryuchyn A.A., Savenkov S.N., Gorbov I.V., Klimov A.S., Oberemok Ye.A.
Kiev, Ukraine
Annotation The study of the influence of different optical disk substrate materials on polarimetric characteristics of readout laser beam is conducted. Polarimetric characteristics of CD substrates made from different materials (silicate glass, glass-ceramics, fused silica, polycarbonate and sapphire) at various incidence angle of collimated laser radiation are studied. The incidence angle varied within the range from 0? to 45? from the normal to the surface substrate. The study of optical polarimetric substrate characteristics is performed by the Muller matrix method. It is demonstrated that birefringence causes pits borders blooming and information playback signal distortion. Fig.: 5. Refs: 12 titles
Key words optical media, sapphire, playback signal, birefringence, Muller matrix.
References 1. Пат. 73611 Україна. Носій для довготермінового зберігання інформації / В.В. Петров, В.П. Семиноженко, В.М. Пузиков, О.Я. Данако, А.А. Крючин, С.М. Шанойло, Л.В. Бутенко, І.О. Косско; заявник і власник Ін-т проблем реєстрації інформації НАН України. — Опубл. 15.08.2005, Бюл.№ 8.
2. Jiaozuo City Crystal Photoelectrical Materials. — Режим доступу: http://www.hncrystal.com/ProductView.
3. Pohlmann K.C. The Compact Disk Handbook / Ken C. Pohlmann. — Madison, 1992. — 352 p.
4. Ветров В.Н. Двулучепреломление в линзах из лейкосапфира / В.Н. Ветров, Б.А. Игнатенков // Оптический журнал. — 2006. —Т. 73, № 5. — С. 54–56.
5. Ветров В.Н. Двулучепреломление в оптических элементах сложной формы из одноосных кристаллов / В.Н. Ветров, Б.А. Игнатенков // Оптический журнал. — 2006. — Т. 73, № 3. — С. 64– 66.
6. Hauge P.S. A Rotating-Compensator Fourier Ellipsometer / P.S. Hauge, F.H. Dill // Opt. Commun. — 1975. — № 14.— Р. 431–437.
7. Savenkov S.N. Optimization and Structuring of the Instrument Matrix for Polarimetric Measurements / S.N. Savenkov // Opt. Engineering. — 2002. — № 41. — Р. 965-972.
8. Savenkov. S.N. Effect of the Structure of Polarimeter Characteristic Matrix on Light Polarization Measurements / S.N. Savenkov, Ye.A. Oberemok, O.S. Klimov, О.I. Barchuk // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. — 2009. — Vol. 12, N 3. — P. 264–271.
9. Савенков С.Н. Метод трех линейных зондирующих поляризаций в мюллер-поляриметрии с источником поляризованного излучения произвольной эллиптичности / С.Н. Савенков, В.И. Григорук, А.С. Климов, Е.А. Оберемок, Ю.А. Скобля // Журнал Прикладной Спектроскопии — 2008.—Т. 75, № 6. — С. 875–881.
10. Savenkov S.N. Generalized Matrix Equivalence Theorem for Polarization Theory / S.N. Savenkov, V.V. Marienko, E.A. Oberemok, O.I. Sydoruk // Phys. Rev. E. — 2006. — № 74. — Р. 605– 607.
11. Brosseau Ch. Fundamentals of Polarized Light. A Statistical Optics Approach. — New York: North-Holland Publishing Company, 1998. — 406 р.
12. Горбов І.В. Вплив показника заломлення матеріалу підкладки на глибину інформаційного рельєфу оптичних носіїв / І.В. Горбов // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2009. — Т. 11, № 1. — С. 3–10.
Файлы 2009-2-1.pdf