IPRI - www.ipri.kiev.ua -  IPRI - www.ipri.kiev.ua -
Раздел [RUS]
Регистрация, хранение и обраб. данных. — 2009. — Т. 11, № 2.
[UKR]
Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2009. — Т. 11, № 2.
[ENG]
Data Rec., Storage & Processing. — 2009. — Vol. 11, N 2.
Страницы 3-11
PDF, full text
Заглавие [RUS]
Исследование поляриметрических характеристик подложек оптических дисковых носителей
[UKR]
Дослідження поляриметричних характеристик підкладок оптичних дискових носіїв
[ENG]
Study of Polarimetric Characteristics of Optical Disk Media Substrates
Авторы [RUS]
Петров В.В., Крючин А.А., Савенков С.Н., Горбов І.В., Клімов О.С., Оберемок Є.А.
[UKR]
В. В. Петров, А. А. Крючин, С. Н. Савенков, И. В. Горбов, А. С. Климов, Е. А. Оберемок
[ENG]
Petrov V.V., Kryuchyn A.A., Savenkov S.N., Gorbov I.V., Klimov A.S., Oberemok Ye.A.
Kiev, Ukraine
Аннотация [RUS]
Проведено исследование влияния разных материалов подложек оптических дисков на поляризационные характеристики луча воспроизводящего лазера. Исследованы поляриметрические характеристики подложек компакт-дисков, изготовленных из разных материалов (силикатное стекло, ситалл, плавленый кварц, поликарбонат и сапфир), при изменении угла падения коллимированного лазерного излучения. Угол падения варьировался в диапазоне от 0? до 45? от нормали к поверхности подложки. Анализ оптических анизотропных свойств исследуемых образцов проводился с использованием матричного подхода Мюллера. Показано, что двойное лучепреломление приводит к расплыванию границ питов и искажению сигнала воспроизведения информации.
[UKR]
Проведено дослідження впливу різних матеріалів підкладок оптичних дисків на поляризаційні характеристики променя лазера відтворення. Досліджено поляриметричні характеристики підкладок компакт-дисків, виготовлених із різних матеріалів (силікатне скло, ситал, плавлений кварц,полікарбонат і сапфір), для різних кутів падіння колімованого лазерного випромінювання. Кут падіння змінювався в діапазоні від 0? до 45? відносно нормалі до поверхні підкладки. Аналіз оптичних анізотропних властивостей підкладок виконано за допомогою матричного підходу Мюллера. Показано, що подвійне променезаломлення призводить до розпливання меж пітів і спотворення сигналу відтворення інформації. Іл.: 5. Бібліогр.: 12 найм.
[ENG]
The study of the influence of different optical disk substrate materials on polarimetric characteristics of readout laser beam is conducted. Polarimetric characteristics of CD substrates made from different materials (silicate glass, glass-ceramics, fused silica, polycarbonate and sapphire) at various incidence angle of collimated laser radiation are studied. The incidence angle varied within the range from 0? to 45? from the normal to the surface substrate. The study of optical polarimetric substrate characteristics is performed by the Muller matrix method. It is demonstrated that birefringence causes pits borders blooming and information playback signal distortion. Fig.: 5. Refs: 12 titles.
Ключевые слова [RUS]
оптический носитель, сапфир, сигнал воспроизведения, двойное лучепреломление, матрица Мюллера.
[UKR]
оптичний носій, сапфір, сигнал відтворення, подвійне променезаломлення, матриця Мюллера.
[ENG]
optical media, sapphire, playback signal, birefringence, Muller matrix.
Ссылки 1. Пат. 73611 Україна. Носій для довготермінового зберігання інформації / В.В. Петров, В.П. Семиноженко, В.М. Пузиков, О.Я. Данако, А.А. Крючин, С.М. Шанойло, Л.В. Бутенко, І.О. Косско; заявник і власник Ін-т проблем реєстрації інформації НАН України. — Опубл. 15.08.2005, Бюл.№ 8.
2. Jiaozuo City Crystal Photoelectrical Materials. — Режим доступу: http://www.hncrystal.com/ProductView.
3. Pohlmann K.C. The Compact Disk Handbook / Ken C. Pohlmann. — Madison, 1992. — 352 p.
4. Ветров В.Н. Двулучепреломление в линзах из лейкосапфира / В.Н. Ветров, Б.А. Игнатенков // Оптический журнал. — 2006. —Т. 73, № 5. — С. 54–56.
5. Ветров В.Н. Двулучепреломление в оптических элементах сложной формы из одноосных кристаллов / В.Н. Ветров, Б.А. Игнатенков // Оптический журнал. — 2006. — Т. 73, № 3. — С. 64– 66.
6. Hauge P.S. A Rotating-Compensator Fourier Ellipsometer / P.S. Hauge, F.H. Dill // Opt. Commun. — 1975. — № 14.— Р. 431–437.
7. Savenkov S.N. Optimization and Structuring of the Instrument Matrix for Polarimetric Measurements / S.N. Savenkov // Opt. Engineering. — 2002. — № 41. — Р. 965-972.
8. Savenkov. S.N. Effect of the Structure of Polarimeter Characteristic Matrix on Light Polarization Measurements / S.N. Savenkov, Ye.A. Oberemok, O.S. Klimov, О.I. Barchuk // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. — 2009. — Vol. 12, N 3. — P. 264–271.
9. Савенков С.Н. Метод трех линейных зондирующих поляризаций в мюллер-поляриметрии с источником поляризованного излучения произвольной эллиптичности / С.Н. Савенков, В.И. Григорук, А.С. Климов, Е.А. Оберемок, Ю.А. Скобля // Журнал Прикладной Спектроскопии — 2008.—Т. 75, № 6. — С. 875–881.
10. Savenkov S.N. Generalized Matrix Equivalence Theorem for Polarization Theory / S.N. Savenkov, V.V. Marienko, E.A. Oberemok, O.I. Sydoruk // Phys. Rev. E. — 2006. — № 74. — Р. 605– 607.
11. Brosseau Ch. Fundamentals of Polarized Light. A Statistical Optics Approach. — New York: North-Holland Publishing Company, 1998. — 406 р.
12. Горбов І.В. Вплив показника заломлення матеріалу підкладки на глибину інформаційного рельєфу оптичних носіїв / І.В. Горбов // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2009. — Т. 11, № 1. — С. 3–10.
Файлы 2009-2-1.pdf